半導体CV特性測定器

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半導体CV特性測定器は、MOSFETなどのパワー半導体に決まったゲート電圧（VGS）とドレイン電圧（VDS）を加えた状態で、入力容量Ciss・出力容量Coss・帰還容量Crss とゲート抵抗Rgを測る計測器です。汎用のLCRメーターでは高いバイアス電圧を安全に加えられないため、この用途に特化した機器を使います。

掲載機種はテスト周波数1kHz〜2MHz、VGS ±40Vまで共通で、違いはVDSの上限です。TH511は±200V、TH512は±1500Vまで対応するので、評価するデバイスの耐圧に合わせて選びます。